关于测试BIMMF光纤，您需要了解什么

弯曲不敏感多模光纤（ BIMMF ）是为数据中心和企业网络应用开发的，损耗预算非常紧张，能够承受更紧的弯曲，信号损耗比非 BIMMF 低得多。   BIMMF 设计严格限制了更可能在弯曲期间逃逸光纤芯的高阶模式。该设计通过在光纤芯和包层之间添加专门设计的光学“沟槽”来实现这一点。   虽然 BIMMF 允许布线安装人员部署网络，而不必担心因工艺造成的弯曲损耗，但在测试时有一些考虑因素。   缓解泄漏模式 如果使用过满启动，所有 BIMMF 设计都表现出长度依赖性。发射到沟槽中的高阶模式可以在那里保持一段距离，直到它们衰减。这些在沟槽内传播的模式称为“泄漏模式”，可影响接头和连接器损耗。   虽然标准非 BIMMF 光纤的精确测试可以通过双波长源和通用测试线和芯轴实现，但标准 25 mm 芯轴在剥离 850 nm 波长的较高模式方面做得不够好，导致了悲观的损失。   虽然已经证明，更小、形状独特的 4mm 芯轴旋转更多圈可以在 850nm 处去除更高阶模式，但在 1300nm 波长处不能使用相同的芯轴。将测量两个波长之间的不同损耗读数。此外，每个波长都需要非常小且形状独特的心轴设计，这增加了测试过程的复杂性和混乱。   因此，在测试 BIMMF 时，需要更严格地控制发射条件，如环绕通量（ EF ），而不是芯轴测试。它缓解了发射过量和泄漏模式的问题，同时能够在两个波长上进行一致和准确的测量。   混合和匹配 对 BIMMF 的建模和测试表明，优化后的 BIMMF 是向后兼容的，可以与非 BIMMF 混合，而不会产生额外的损耗。然而，这也需要更严格地控制发射，如 EF 。还有证据表明，连接器不兼容和光纤几何结构差异（芯径）可能会导致方向依赖性，而与光纤类型无关。   启动电源线选择 在测试多模光纤链路时，光源的发射条件会极大地影响衰减测量。由于在 850nm 和 1300nm 波长下使用具有公共芯轴的 BIMMF 发射线会导致明显不同的结果，因此发射线中只能使用非 BIMMF 光纤。   为了使用推荐的单芯参考法完成永久链路测试，必须使用接收芯线提供链路衰减措施，包括安装的光纤和链路两端的两个连接。虽然设计良好的 BIMMF 测试线与安装的电缆芯直径和数值孔径相匹配，但谨慎的做法是也使用非 BIMMF 作为接收线，以避免出现过于乐观的测试结果。这是一个仍在研究的领域。   那么你需要做什么呢？ 测试 BIMMF 实际上与测试其他光纤类型没有什么不同——它需要连接到光源的环绕通量发射和非 BIMMF 发射线，推荐的单芯参考方法，以及测量永久链路时的非 BIMMV 接收线。好消息是，使用 Fluke Networks 符合 EF 标准的 CertiFiber®Pro ，根本没有额外的工作。 要更仔细地了解 BIMMF 的测试方法，并查看测量和验证测试线和永久链路衰减的完整步骤 。 以上由福禄克经销商代理商，专注福禄克网线测试仪、光纤测试仪的明辰智航提供参考。